雷达学报
雷达学报  2015, Vol. 4 Issue (6): 708-714    DOI: 10.12000/JR15039
SAR专题 最新目录| 下期目录| 过刊浏览| 高级检索 |
基于CSAR成像的相干斑统计模型研究
郭小洋*①②③ 李 洋①②③ 林 赟①② 郭胜龙①②③  洪 文①②
(中国科学院电子学研究所 北京 100190)
(微波成像技术重点实验室 北京 100190)
(中国科学院大学 北京 100049)
Statistical Models of Speckle for Circular SAR Imaging
Guo Xiao-yang①②③  Li Yang①②③ Lin Yun①② Guo Sheng-long①②③ Hong Wen①②
(The Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China)
(Science and Technology on Microwave Imaging Laboratory, Beijing 100190, China)
(University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China)

 

版权所有 © 2011《雷达学报》编辑部 
地址:北京市海淀区北四环西路19号 邮编:100190
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发 技术支持:support@magtech.com.cn
京ICP备20021838号-8